Учеными был представлен метод улучшения атомно-силовой микроскопии
Команда исследователей презентовала новый метод для улучшения атомно-силовой микроскопии.
По словам специалистов, чтобы получить изображение высоты, атомно-силовая микроскопия обычно применяется для сканирования поверхностей материалов. Такой метод неспособен с точностью определять молекулярный состав.
Экспертами было разработано новое устройство, добавляющее адаптивную коррекцию оптики в коммерческие оптические микроскопы. По словам экспертов, улучшенная технология позволит углубить понимание ученых о биологии и поможет в создании более эффективных лекарственных препаратов. Кроме этого были презентованы новые линзы, которые демонстрируют легкость процесса установки устройства на объектив микроскопа.